在扫描电子显微镜(SEM)中,硅片基底是常用的样品支撑材料,用于制备薄层或粉末样品,以进行高分辨率表面形貌分析。其尺寸需适配SEM样品台,确保稳定性和成像质量。

常见的硅片基底尺寸包括圆片直径10毫米、12.7毫米(对应0.5英寸)或25.4毫米(对应1英寸),以及方形基底如10毫米×10毫米。这些尺寸基于标准SEM样品台设计,广泛用于材料科学和生物样品制备。厚度通常为0.5毫米至1毫米,以平衡机械支撑和电子束交互。
实际尺寸可能因SEM型号(如场发射SEM或环境SEM)、实验室协议或样品特性而异。建议参考设备制造商指南或行业标准(如半导体晶圆尺寸衍生),以确保兼容性。对于特殊应用,硅片基底可定制切割,但核心原则是匹配样品台规格,避免尺寸偏差影响成像。

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