sem量测主要看什么

SEM（扫描电子显微镜）量测主要关注以下几个方面：

1. 样品形貌：观察样品的表面形态及微观结构，获取细节丰富的图像。

2. 成分分析：结合能谱分析（EDS）或波谱分析（WDS），获取样品的元素成分信息。

3. 颗粒大小与分布：量化样品中颗粒的大小、形状和分布特征。

4. 表面粗糙度：分析表面的平滑度或粗糙度，以评估其对某些应用的影响。

5. 缺陷与缺陷密度：观察材料中的缺陷，如裂纹、气孔等，并评估其密度和分布。

6. 结晶结构：通过EBSD（电子背散射衍射）等技术，分析材料的晶体取向和相变表征。

7. 厚度测量：对于薄膜材料，测量膜层的厚度和均匀性。

通过以上这些参数的测量，SEM能提供丰富的材料特征信息，帮助研究人员进行材料的性能分析、质量控制和新材料的开发。