sem可以看到哪些信息

扫描电子显微镜（SEM）能够提供以下多维度信息：

1. 表面形貌：通过二次电子（SE）成像显示样品表面的三维形貌，分辨率可达纳米级（通常1-10 nm），适用于观察材料微观结构、断裂面、颗粒分布等。

2. 成分分析：

- 能谱仪（EDS）：检测特征X射线，实现元素定性与半定量分析（范围B5-U92），绘制元素面分布图。

- 背散射电子（BSE）成像：信号强度与原子序数正相关，可区分不同组分（如合金相、矿物共生）。

3. 晶体结构：电子背散射衍射（EBSD）可分析晶粒取向、相组成、织构等，用于金属、陶瓷的变形机制研究。

4. 电荷效应：绝缘体样品需镀膜以避免电荷积累，未镀膜区域的成像异常可间接反映材料导电性差异。

5. 动态过程：环境SEM（ESEM）可观察湿润样品、化学反应或生物活体在低压环境中的实时变化。

6. 深度信息：通过倾斜样品或立体对成像，结合软件重构三维表面形貌。

7. 纳米尺度测量：标定后可直接测量特征尺寸（如颗粒直径、薄膜厚度），误差通常＜5%。

SEM的局限性包括：样品需真空兼容，EDS对轻元素（H、He、Li）灵敏度低，电子束可能损伤有机材料。在半导体、纳米材料、地质和生物领域有广泛应用，如芯片缺陷检测、催化剂形貌表征、化石微结构分析等。